沒(méi)有任何文章了

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標(biāo)題：芯片分選機(jī)的背景技術(shù)

簡(jiǎn)介：??IC芯片完成加工制造工序后，需要一一進(jìn)行測(cè)試和分類，芯片分類存放有利于芯片的合理使用。測(cè)試分選機(jī)是將已經(jīng)通過(guò)預(yù)定制造工序制造的半導(dǎo)體裝置電連接至測(cè)試器并且根據(jù)測(cè)試結(jié)果將半導(dǎo)體裝置分類的設(shè)備。最初，人們對(duì)芯片測(cè)試后，是靠人工分類放置的，不僅效率低，還容易發(fā)生錯(cuò)誤?，F(xiàn)有技術(shù)中已有自動(dòng)測(cè)試分選機(jī)，例如專利公開(kāi)號(hào)：CN102698969A,公開(kāi)日：2012年10月03日，發(fā)明創(chuàng)造名稱為：一種IC芯片自動(dòng)測(cè)試分選機(jī)，該申請(qǐng)案公開(kāi)了一種IC芯片自動(dòng)測(cè)試分選機(jī)，包括可將堆積的實(shí)料盤(pán)逐一分離的上料實(shí)托盤(pán)分離輸入裝置，和料船模組裝置。包括受控于伺服電機(jī)左右擺動(dòng)的用于放置待測(cè)芯片的左料船和用于放置測(cè)試后芯片的...... [詳細(xì)]